技术参数
1、X射线发生器功率为3KW
2、测角仪为水（shuǐ）平测角仪
3、测角仪（yí）半（bàn）径300mm
4、测角仪（yí）配（pèi）程序式（shì）可变狭（xiá）缝
5、最小步径0.0001度
6、CBO交（jiāo）叉光路，提供聚焦光路（lù）及高强度高分辨平行光路（lù）（带Mirror）（理（lǐ）学专利）
7、高速探测器（qì）D/teX Ultra250（0维，1维模式（shì））
8、半导体阵（zhèn）列2维探（tàn）测器（qì）HyPix400(0维、1维、2维（wéi）模式)
7、搭载从控制测量到分（fèn）析结果（guǒ）的SmartLab Studio II软件包
8、视频观察系统
9、丰富（fù）的各种附件
主要的应（yīng）用有：
1. 粉末样品的物相定性（xìng）与定量分析
2. 计算（suàn）结晶化度、晶粒（lì）大小
3. 确定晶系、晶（jīng）粒大小与（yǔ）畸变
4. Rietveld定量分析（xī）
5. 薄（báo）膜样品分析，包括薄膜物相（xiàng）、多层（céng）膜厚度、表面粗糙度，电荷密度
6.小角散射与纳米材料粒径（jìng）分布
7. 微（wēi）区样品的分析